Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий : [монография] / М. И. Горлов, В. А. Сергеев ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет"
Язык: русский.Выходные данные: Ульяновск : УлГТУ, 2020Физическая характеристика: 470 с. : ил., табл. ; 21 см.ISBN: 9785979520001 Издание: : 3-е изд., перераб. и доп.Библиография: Библиогр. в конце гл..Предметная рубрика - Тема: Полупроводниковые приборы -- Техническая диагностика | Полупроводниковые приборы -- Качество Другие классификации: З852-082.051 ; З852-021.1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
По пред. изд. 2015 г.
Библиогр. в конце гл.