Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии. Уч.-метод. пособие
Язык: русский.Выходные данные: Новосибирск : НГТУ, 2012Физическая характеристика: 20 см.ISBN: 978-5-7782-1924-3 Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд изданий групповой обработки | ФГО (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 3220 | Доступно | 3685259 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Обменный фонд | 3220 | Доступно | 3685263 |