Обзоры по электронной технике. Вып.1334: Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии / С.С. Волков, А.Б. Толстогузов
Сводное описание: Обзоры по электронной технике / М-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"Язык: русский.Выходные данные: Б. м., 1988Серия: ; Вып.1334Коллекция: Национальная библиография ; Русская периодика Тип экземпляра: ВыпускНет реальных экземпляров для этой записи