Обзоры по электронной технике. Вып.1682: Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок / А.В. Баскаков
Сводное описание: Обзоры по электронной технике / М-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"Язык: русский.Выходные данные: Б. м., 1992Серия: ; Вып.1682Коллекция: Национальная библиография ; Русская периодика Тип экземпляра: ВыпускНет реальных экземпляров для этой записи