25th International conference on defects in semiconductors, St. Petersburg, Russia, July 20-24, 2009 : book of abstracts
Язык: английский.Выходные данные: St Petersburg : Ioffe inst., 2009Физическая характеристика: 466 c. ; 20 см.ISBN: 978-5-93634-048-2 Библиография: Библиогр. в конце тез.; Указ.: с. 451-466.Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Съезды, совещания и т.п. -- Дефекты Другие классификации: В379.2я431(0) ; З843.304я431(0)Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Примечания | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Ик 2009-3/746 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | ; | 1086799 |
вт.ч. конкретные п/п
Библиогр. в конце тез.
Указ.: с. 451-466