Автоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов / И.К. Взоров, А.В. Калмыков, С.А. Коренев и др.
Язык: русский ; резюме, английский.Выходные данные: Дубна : ОИЯИ, 1999Физическая характеристика: 20,[1] с. : ил. ; 22 см.Серия: Сообщения Объединенного института ядерных исследований ; Р 10-99-192Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 20.Предметная рубрика - Тема: Металл-диэлектрик-полупроводник, система -- Электрические параметры -- Экспресс-анализ автоматический | МДП-структуры -- Электрические параметры -- Экспресс-анализ автоматический Другие классификации: З852.39-016-07Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 99-6/1286 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2056 | Доступно | 6924 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 99-6/1286 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2056 | Доступно | 6925 |
Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 20