Исследование реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения / И.П. Карабеков, Д.Л. Егикян, Р.А. Микаэлян и др.
Язык: русский.Выходные данные: Ереван : ОНТИ ЕФИ, 1980Физическая характеристика: 13 с. : ил. ; 20 см.Серия: Ереванский физический институт ; ЕФИ-394 (1)Библиография: Библиогр.: с. 13. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 80-4/27109 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6388194-10 |
Библиогр.: с. 13