Контроль в технологии микроэлектроники / В.М. Колешко, П.П. Гойденко, Л.Д. Буйко
Язык: русский.Выходные данные: Минск : Наука и техника, 1979Физическая характеристика: 312 с. : ил. ; 22 см.Примечания: В надзаг.: АН БССР, Ин-т электроники.Библиография: Библиогр.: с. 293-310 (736 назв.).Предметная рубрика - Тема: Микроэлектронные схемы, интегральные, большие -- Производство -- Технический -контроль Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 80-5/148 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6714560-20 |
В надзаг.: АН БССР, Ин-т электроники
Библиогр.: с. 293-310 (736 назв.)