Метрология и технология полупроводниковых сканисторов / П.И. Госьков
Язык: русский.Выходные данные: Томск : Изд-во Том. ун-та, 1977Физическая характеристика: 191 с. : ил. ; 20 см.Библиография: Список лит.: с. 186-190 (56 назв.).Предметная рубрика - Тема: Сканирующие устройстваКоллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 77-3/12834 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6503559-10 |
Список лит.: с. 186-190 (56 назв.)