Разработка сверхвысокочастотных методов и аппаратуры для измерения параметров полупроводниковых материалов : (Применит. к измерению с помощью с. в. ч. электропроводности, ее температурной зависимости, радиац. фотопроводимости и времени рекомбинации носителей); Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. техн. наук; (301) / Ленингр. ин-т авиац. приборостроения
Язык: русский.Выходные данные: Ленинград, 1971Физическая характеристика: 18 с.Библиография: Список работ авт.: с. 17-18 (9 назв.). Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Список работ авт.: с. 17-18 (9 назв.)