ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях / В.М. Бондаренко, С.Н. Редковец, А.В. Маранов и др.
Язык: русский.Выходные данные: Киев : ИЭД, 1987Физическая характеристика: 27 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; 533Библиография: Библиогр.: с. 26.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 88-4/24935 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5670505-10 |
Библиогр.: с. 26