Подробности: Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ , (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.)

Книга

Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.) / Ю.А. Матвеев, В.Е. Батурин, А.Г. Овденко

Автор: Матвеев, Юрий АлександровичАвтор (Альтер.): Батурин, В. Е. ;
Овденко, А. Г.Язык: русский.Выходные данные: М. : Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1984Физическая характеристика: 56 с. : ил. ; 20 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 1049Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 49-55.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	РНБ (Московский) Русский журнальный фонд	П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		6335268-10

В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР

Библиогр.: с. 49-55