An X-ray curved-crystal spectrometer for EBIS / P. S. Antsiferov, V. G. Movshev
Язык: английский.Выходные данные: Troitzk : [s.n.], 1990Физическая характеристика: 17 с. : ил. ; 21 см см.Серия: Preprint ; № 4Библиография: Библиогр.: с. 17.Предметная рубрика - Тема: Рентгеновские спектрометры Другие классификации: ( rubbk ) В371.213 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Фз01 Д-4/6044 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9057256-10 |
Библиогр.: с. 17