Application of high-quality quartz and silicon crystals for X-ray spectral diagnostics of laser plasma / K. Goetz, Yu. A. Mikhailov, S. A. Pikuz [et al.]
Язык: английский.Выходные данные: М. : [s.n., 1977]Физическая характеристика: [2], 25 с. : ил. ; 19 см см.Серия: Preprint ; N 19Библиография: Библиогр.: с. 24-25.Предметная рубрика - Тема: Плазма (физ.) лазерная -- Диагностика рентгеноспектральнаяДругие классификации: ( ) В333.41Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Фэ01 Д-4/832 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9067230-10 |
Библиогр.: с. 24-25