Semiconductor devices measurements and tests / G. Grin ; Transl. from the Russ. by Alexander Repyev
Язык: английский ; оригинала, русский.Выходные данные: M. : Mir, 1980Физическая характеристика: 208 с. : ил. ; 21 см см.Издание: : Rev. from the 1978 Russ. 3d ed.Примечания: Доп. тит. л. на рус. яз.: Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов / Г. И. Грин.Библиография: Библиогр.: с. 208.Другие классификации: ( ) З852-07Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Т95 Д-3/187 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9387053-10 |
Доп. тит. л. на рус. яз.: Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов / Г. И. Грин
Библиогр.: с. 208