Закономерности образования структурных дефектов в полупроводниковых А2B6 / Ю. Ю. Логинов, Пол Д. Браун, Кен Дьюроуз
Язык: русский ; резюме, английский.Выходные данные: М. : Логос, 2003Физическая характеристика: 302, [1] с. : ил. ; 22 см.ISBN: 5-94010-214-X Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 282-303.Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Дефекты Неконтролируемые предметные термины: Полупроводники - Дефекты | Кремний - Монокристаллы - ОблучениеУДК: 548.571:538.95, 3, rusДругие классификации: ( ) 31.15 ; ( ) 22.37 ; З843.325.04Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 2003-5/6694 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1687 | Доступно | 1-2843281 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 2003-5/6694 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1687 | Доступно | 567524 |
Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 282-303