Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении : [Пер. с англ.] / М-во электронной пром-сти СССР. Переводы иностр. литературы
Язык: русский ; оригинала, английский.Выходные данные: Москва : Ин-т "Электроника", 1968Физическая характеристика: 15 с. : черт. ; 21 см.Серия: Серия "Контрольно-измерительная аппаратура" ; № 20/ЭТ-3046Примечания: На обл. авт. не указан.Предметная рубрика - Тема: Пленки тонкие -- Параметры -- ИзмерениеКоллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/590 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 8902147-10 |
На обл. авт. не указан