Search for 'an:1000140' with limit(s): 'suppress:false'

Современные методы анализа дифракционных данных , (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) , программа и материалы Третьего междунар. науч. семинара, 22-25 мая 2006 г.

By [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев].
Великий Новгород ИПЦ Новгор. гос. ун-та им. Ярослава Мудрого 2006 .
306 с. , В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого | Часть текста на англ. яз. 29.
5-89896-300-6

Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов , [учебник]

By Б. Фульц, Дж.М. Хау.
Москва Техносфера 2011 .
903 с. , На 4-й с. обл. авт.: Б. фульц проф. Калифорн. технол. ин-та, Д.М. Хау проф. ун-та Вирджинии 25.
978-5-94836-291-5

Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) , Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г.

By [Сост. В.А. Ткаль].
Великий Новгород НовГУ 2004 .
144 с. , В надзаг.: Рос. акад. наук. Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе, М-во образования Рос. Федерации. Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого | Рез. докл. на англ. яз. 29.

Современные методы анализа дифракционных данных , (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) , сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года

By [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев].
Великий Новгород Новгородский государственный университет 2007 .
172 с. , В надзаг.: Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Московский гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгородский гос. ун-т им. Ярослава Мудрого 30.
978-5-89896-340-8