<?xml version="1.0" кодирование="utf-8" ?> <rss version="2.0" xmlns:opensearch="http://a9.com/-/spec/opensearch/1.1/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"> <channel> <title> <![CDATA[ Search for 'an:2097255' with limit(s): 'suppress:false']]> </title> <link> http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-поиск.pl?idx=&#38;q=an%3A2097255&#38;sort_by=relevance&#38;format=rss </link> <atom:link rel="self" type="application/rss+xml" href="http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-search.pl?idx=&#38;q=an%3A2097255&#38;sort_by=relevance&#38;format=rss"/> <description> Search results for 'an:2097255' with limit(s): 'suppress:false' at </description> <opensearch:totalResults>6</opensearch:totalResults> <opensearch:startIndex>0</opensearch:startIndex> <opensearch:itemsPerPage>50</opensearch:itemsPerPage> <atom:link rel="search" type="application/opensearchdescription+xml" href="http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-search.pl?idx=&#38;q=an%3A2097255&#38;sort_by=relevance&#38;format=opensearchdescription"/> <opensearch:Query role="request" searchTerms="idx%3D%26q%3Dan%253A2097255suppress%3Afalse" startPage="" /> <item> <title> Рентгенографическое исследование тонкой структуры твердых тел , учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров &quot;Нанотехнологии и микросистемная техника&quot; </title> <dc:identifier>ISBN: 978-5-7944-3093-6</dc:identifier> <link>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=12177642</link> <description> <p> By О. Р. Семенова.<br /> Пермь Издательский центр Пермского государственного национального исследовательского университета 2018 .<br /> 95 с. 20.<br /> 978-5-7944-3093-6 </p> </description> <guid>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=12177642</guid> </item> <item> <title> Дифракционные методы исследования структур , Учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по спец. &quot;Физ.-хим. методы исслед. процессов и материалов&quot; и &quot;Физика металлов&quot; </title> <dc:identifier>ISBN: 5-7422-0047-1</dc:identifier> <link>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=183131</link> <description> <p> By Д.М. Васильев.<br /> М. Изд-во СПбГТУ 1998 .<br /> 502 с. 21.<br /> 5-7422-0047-1 </p> </description> <guid>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=183131</guid> </item> <item> <title> Анализ структуры твердых тел методом ДМЭ , учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки 11.04.04 Электроника и наноэлектроника </title> <dc:identifier>ISBN: </dc:identifier> <link>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=11392165</link> <description> <p> By К. Ч. Бжихатлов, В. К. Люев.<br /> Нальчик Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова 2018 .<br /> 57 с. 20.<br /> </p> </description> <guid>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=11392165</guid> </item> <item> <title> Современные методы анализа дифракционных данных , (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) , программа и материалы Третьего междунар. науч. семинара, 22-25 мая 2006 г. </title> <dc:identifier>ISBN: 5-89896-300-6</dc:identifier> <link>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=340666</link> <description> <p> By [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев].<br /> Великий Новгород ИПЦ Новгор. гос. ун-та им. Ярослава Мудрого 2006 .<br /> 306 с. , В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого | Часть текста на англ. яз. 29.<br /> 5-89896-300-6 </p> </description> <guid>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=340666</guid> </item> <item> <title> Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) , Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. </title> <dc:identifier>ISBN: </dc:identifier> <link>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1419227</link> <description> <p> By [Сост. В.А. Ткаль].<br /> Великий Новгород НовГУ 2004 .<br /> 144 с. , В надзаг.: Рос. акад. наук. Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе, М-во образования Рос. Федерации. Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого | Рез. докл. на англ. яз. 29.<br /> </p> </description> <guid>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1419227</guid> </item> <item> <title> Современные методы анализа дифракционных данных , (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) , сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года </title> <dc:identifier>ISBN: 978-5-89896-340-8</dc:identifier> <link>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1240186</link> <description> <p> By [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев].<br /> Великий Новгород Новгородский государственный университет 2007 .<br /> 172 с. , В надзаг.: Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Московский гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгородский гос. ун-т им. Ярослава Мудрого 30.<br /> 978-5-89896-340-8 </p> </description> <guid>http://nb.nlr.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1240186</guid> </item> </channel> </rss>
