Accelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits
Ик 2014-5/393 - 300 экз.978-5-91978-017-5/[2014-9573]/английский/Accelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits / Prof. Alexander Shalumov, Ph.D. Evgeny Pershin.Accelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits / Prof. Alexander Shalumov, Ph.D. Evgeny Pershin.Accelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits.Moscow/[s.n.]/, 2013 ( ). - [s.n.], 2013. - 126, [2] с. : ил. ; 22 см.Accelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits. Moscow, 2013 .
Библиогр.: с. 118 (12 назв.). Библиогр.: с. 118 (12 назв.).Электронные приборы -- Тепловой расчет/Электронные приборы -- Надежность -- Расчет/АСОНИКА, система автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры/З85-021.1/З85-028.3/
Библиогр.: с. 118 (12 назв.). Библиогр.: с. 118 (12 назв.).Электронные приборы -- Тепловой расчет/Электронные приборы -- Надежность -- Расчет/АСОНИКА, система автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры/З85-021.1/З85-028.3/