Описание RUSMARC Карточка

Моделирование природных процессов и анализ наноструктур тонких пленок, [монография]

- 200 экз.9785936810367/[2017-42450]/русский/Моделирование природных процессов и анализ наноструктур тонких пленок : [монография] / Т. Л. Шугунов, Л. Ж. Шугунов, М. Х. Хаупшева.Моделирование природных процессов и анализ наноструктур тонких пленок : [монография] / Т. Л. Шугунов, Л. Ж. Шугунов, М. Х. Хаупшева.Моделирование природных процессов и анализ наноструктур тонких пленок : [монография].Нальчик/Изд-во М. и В. Котляровых/, 2017 ( ). - Изд-во М. и В. Котляровых, 2017. - 249, [2] с. : ил., цв. ил., табл. ; 22 см.Моделирование природных процессов и анализ наноструктур тонких пленок : [монография]. Нальчик, 2017 .
Библиогр.: с. 243-249 (108 назв.). - 16+. Библиогр.: с. 243-249 (108 назв.).Сейсмические процессы -- Статистическое моделирование/Метеорологические процессы -- Статистическое моделирование/nlr_sh2/nlr_sh1/nlr_sh2/Д.с18,0/Д217.121в647/Д245в647/ Шугунов, Т. Л., Тимур Лионович .Т. Л.Тимур ЛионовичШугунов, Лион Жамбулатович /Хаупшева, Марина Хусеновна /

Печать
Добавить в вашу подборку (удалить)
Отправить на устройство
Сохранить запись
BibTeX MARCXML MODS (XML) RIS RUSMARC (Юникод/UTF-8, стандартный)
Больше поисковых запросов

Поиск данного заглавия в:
Other Databases (Google Scholar) Open Library (openlibrary.org)