Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров, учебно-методическое пособие
- 1000 экз.978-5-7806-0525-6/[КН-П-19-082618]/русский (rus)/Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие / Н.А. Конева, Т.В. Черкасова, Л.И. Тришкина [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный архитектурно-строительный университет", Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет", Межгосударственный и координационный совет по физике прочности и пластичности материалов.Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие / Н.А. Конева, Т.В. Черкасова, Л.И. Тришкина [и др.].Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие.Новокузнецк/Издательский центр СибГИУ/, 2019 ( ). - Издательский центр СибГИУ, 2019. - 135 с. : ил., табл. ; 21 см. - (Серия "Фундаментальные проблемы современного материаловедения").Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие. Новокузнецк, 2019 .
Библиогр.: с. 127-135 (84 назв.). Библиогр.: с. 127-135 (84 назв.).Электронно-микроскопические методы измерения их параметров/Металлы -- Кристаллы -- Дислокация -- Исследование -- Электронно-микроскопические методы -- Учебно-методические пособия/Конденсированное состояние вещества -- Дислокационная теория -- Учебно-методические пособия/Конденсированное состояние вещества -- Структура -- Учебно-методические пособия/nlr_sh2/nlr_sh1/nlr_sh2/nlr_sh1/nlr_sh2/К202.2я7-1/В36я7-1/В371.2я7-1/
Библиогр.: с. 127-135 (84 назв.). Библиогр.: с. 127-135 (84 назв.).Электронно-микроскопические методы измерения их параметров/Металлы -- Кристаллы -- Дислокация -- Исследование -- Электронно-микроскопические методы -- Учебно-методические пособия/Конденсированное состояние вещества -- Дислокационная теория -- Учебно-методические пособия/Конденсированное состояние вещества -- Структура -- Учебно-методические пособия/nlr_sh2/nlr_sh1/nlr_sh2/nlr_sh1/nlr_sh2/К202.2я7-1/В36я7-1/В371.2я7-1/