Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия), Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г.
2004-8/2228 2004-8/2228 [2004-43667]/русский (rus)/Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / [Сост. В.А. Ткаль].Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / [Сост. В.А. Ткаль].Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г.Великий Новгород/НовГУ/, 2004 ( ). - НовГУ, 2004. - 144 с. : ил., карт., портр. ; 29 см.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. Великий Новгород, 2004 .
В надзаг.: Рос. акад. наук. Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе, М-во образования Рос. Федерации. Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого. - Рез. докл. на англ. яз. - Библиогр. в конце докл. - Алф. указ. авт.: с. 143. Библиогр. в конце докл. Алф. указ. авт.: с. 143.Электронная микроскопия -- Съезды, совещания и т.п./Твердые тела -- Исследование -- Дифракционные методы -- Съезды, совещания и т.п./Дифрактометрия -- Съезды, совещания и т.п./В338.48я431/В371.2я431/Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург)/
В надзаг.: Рос. акад. наук. Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе, М-во образования Рос. Федерации. Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого. - Рез. докл. на англ. яз. - Библиогр. в конце докл. - Алф. указ. авт.: с. 143. Библиогр. в конце докл. Алф. указ. авт.: с. 143.Электронная микроскопия -- Съезды, совещания и т.п./Твердые тела -- Исследование -- Дифракционные методы -- Съезды, совещания и т.п./Дифрактометрия -- Съезды, совещания и т.п./В338.48я431/В371.2я431/Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург)/