Обзоры по электронной технике. Вып.1334: Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии
русский/Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии / С.С. Волков, А.Б. Толстогузов.Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии / С.С. Волков, А.Б. Толстогузов.Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии.Б. м./, 1988 ( ). - 1988. - (... ; Вып.1334 ; 1988, Вып.4).Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии. Б. м., 1988 .Обзоры по электронной технике / М-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"Вып.1334