Автоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов
99-6/1286 99-6/1286 [1999-41803]/русский (rus)/Автоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов / И.К. Взоров, А.В. Калмыков, С.А. Коренев и др.Автоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов / И.К. Взоров, А.В. Калмыков, С.А. Коренев и др.Автоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов.Дубна/ОИЯИ/, 1999 ( ). - ОИЯИ, 1999. - 20,[1] с. : ил. ; 22 см. - (Сообщения Объединенного института ядерных исследований ; Р 10-99-192).Автоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов. Дубна, 1999 .
Рез. на англ. яз. - Библиогр.: с. 20. Библиогр.: с. 20.Металл-диэлектрик-полупроводник, система -- Электрические параметры -- Экспресс-анализ автоматический/МДП-структуры -- Электрические параметры -- Экспресс-анализ автоматический/З852.39-016-07/
Рез. на англ. яз. - Библиогр.: с. 20. Библиогр.: с. 20.Металл-диэлектрик-полупроводник, система -- Электрические параметры -- Экспресс-анализ автоматический/МДП-структуры -- Электрические параметры -- Экспресс-анализ автоматический/З852.39-016-07/