Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц
82-6/7103 русский (rus)/Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц / М.Г. Горнов, Ю.Б. Гуров, П.В. Морохов и др.Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц / М.Г. Горнов, Ю.Б. Гуров, П.В. Морохов и др.Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц.Дубна/ОИЯИ/, 1982 ( ). - ОИЯИ, 1982. - 7 с. : граф. ; 22 см. - (Препринт / Объед. ин-т ядер. исслед. ; 13-82-350).Определение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц. Дубна, 1982 .
Библиогр.: с. 7 (7 назв.). Библиогр.: с. 7 (7 назв.).
Библиогр.: с. 7 (7 назв.). Библиогр.: с. 7 (7 назв.).