Определение глубины проникновения магнитного поля в всерхпроводящую тонкую монокристаллическую пленку YBa₂ Cu₃ O₇ методом отражения поляризованных нейтронов
89-6/541 русский (rus)/Определение глубины проникновения магнитного поля в всерхпроводящую тонкую монокристаллическую пленку YBa₂ Cu₃ O₇ методом отражения поляризованных нейтронов / С.В. Гапонов, Е.Б. Докукин, Д.А. Корнеев и др.Определение глубины проникновения магнитного поля в всерхпроводящую тонкую монокристаллическую пленку YBa₂ Cu₃ O₇ методом отражения поляризованных нейтронов / С.В. Гапонов, Е.Б. Докукин, Д.А. Корнеев и др.Определение глубины проникновения магнитного поля в всерхпроводящую тонкую монокристаллическую пленку YBa₂ Cu₃ O₇ методом отражения поляризованных нейтронов.Дубна/ОИЯИ/, 1989 ( ). - ОИЯИ, 1989. - 3 с. : ил. ; 22 см. - (Препринт / Объед. ин-т ядер. исслед. ; Р3-89-1).Определение глубины проникновения магнитного поля в всерхпроводящую тонкую монокристаллическую пленку YBa₂ Cu₃ O₇ методом отражения поляризованных нейтронов. Дубна, 1989 .
Библиогр.: с. 3 (7 назв.). Библиогр.: с. 3 (7 назв.).
Библиогр.: с. 3 (7 назв.). Библиогр.: с. 3 (7 назв.).