ОПТИМИЗАЦИЯ метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле, (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1988 годы)
П51/94 русский (rus)/ОПТИМИЗАЦИЯ метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1988 годы) / В.Г. Чигринов, Т.В. Коркишко, Г.Е. Невская, А.Е. Рубцов.ОПТИМИЗАЦИЯ метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1988 годы) / В.Г. Чигринов, Т.В. Коркишко, Г.Е. Невская, А.Е. Рубцов.ОПТИМИЗАЦИЯ метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1988 годы).М./ЦНИИ "Электроника"/, 1989 ( ). - ЦНИИ "Электроника", 1989. - 51 с. : ил. ; 21 см. - (Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника" ; Вып. 1439 ; Вып. 2).ОПТИМИЗАЦИЯ метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1988 годы). М., 1989 .
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР. - Библиогр.: с. 41-51. Библиогр.: с. 41-51.
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР. - Библиогр.: с. 41-51. Библиогр.: с. 41-51.