Физико-техническое обоснование и разработка метода локального сканирующего облучения поверхности опухолей, Дис. в форме науч. докл. на соиск. учен. степени д. т. н.
95-50К/480 русский (rus)/Физико-техническое обоснование и разработка метода локального сканирующего облучения поверхности опухолей : Дис. в форме науч. докл. на соиск. учен. степени д. т. н. / Ин-т биофизики.Физико-техническое обоснование и разработка метода локального сканирующего облучения поверхности опухолей : Дис. в форме науч. докл. на соиск. учен. степени д. т. н. / Ин-т биофизики.Физико-техническое обоснование и разработка метода локального сканирующего облучения поверхности опухолей : Дис. в форме науч. докл. на соиск. учен. степени д. т. н.М./Б. и./, 1993 ( ). - Б. и., 1993. - 91 л. : ил. ; 30 см.Физико-техническое обоснование и разработка метода локального сканирующего облучения поверхности опухолей : Дис. в форме науч. докл. на соиск. учен. степени д. т. н. М., 1993 .
Список работ авт.: с. 72-91. - ДСП. Экз. № 30. Список работ авт.: с. 72-91.
Список работ авт.: с. 72-91. - ДСП. Экз. № 30. Список работ авт.: с. 72-91.