Описание RUSMARC Карточка

Метрология и технология полупроводниковых сканисторов

77-3/12834 русский (rus)/Метрология и технология полупроводниковых сканисторов / П.И. Госьков.Метрология и технология полупроводниковых сканисторов / П.И. Госьков.Метрология и технология полупроводниковых сканисторов.Томск/Изд-во Том. ун-та/, 1977 ( ). - Изд-во Том. ун-та, 1977. - 191 с. : ил. ; 20 см.Метрология и технология полупроводниковых сканисторов. Томск, 1977 .
     Список лит.: с. 186-190 (56 назв.). Список лит.: с. 186-190 (56 назв.).Сканирующие устройства/rkp/ Госьков, П. И., Павел Иннокентьевич .П. И.Павел Иннокентьевич
Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru