Описание RUSMARC Карточка

Исследование кинетики отжига радиационных дефектов в Si"Ir" и Si"Pt", облученных γ-квантами

90-4/5771 русский/Исследование кинетики отжига радиационных дефектов в Si"Ir" и Si"Pt", облученных γ-квантами / А. Ахмадалиев, Т.Н. Тураев, С.С. Сабиров.Исследование кинетики отжига радиационных дефектов в Si"Ir" и Si"Pt", облученных γ-квантами / А. Ахмадалиев, Т.Н. Тураев, С.С. Сабиров.Исследование кинетики отжига радиационных дефектов в Si"Ir" и Si"Pt", облученных γ-квантами.Ташкент/ИЯФ/, Б. г. (1989) ( ). - ИЯФ, Б. г. (1989). - 7, [1] с., включ. обл. : граф. ; 21 см. - (Препринт / АН УзССР, Ин-т ядер. физики ; № Р-9-420).Исследование кинетики отжига радиационных дефектов в Si"Ir" и Si"Pt", облученных γ-квантами. Ташкент, Б. г. (1989) . Ахмадалиев, А. .А.Тураев /Сабиров /