ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях
88-4/24935 русский (rus)/ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях / В.М. Бондаренко, С.Н. Редковец, А.В. Маранов и др.ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях / В.М. Бондаренко, С.Н. Редковец, А.В. Маранов и др.ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях.Киев/ИЭД/, 1987 ( ). - ИЭД, 1987. - 27 с. : ил. ; 20 см. - (Препринт / АН УССР, Ин-т электродинамики ; 533).ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях. Киев, 1987 .
Библиогр.: с. 26. Библиогр.: с. 26.
Библиогр.: с. 26. Библиогр.: с. 26.