РЕЛАКСАЦИОННЫЕ методы определения электрофизических параметров поверхностно-барьерных структур
91-4/15469 русский (rus)/РЕЛАКСАЦИОННЫЕ методы определения электрофизических параметров поверхностно-барьерных структур / В.А. Гусев, Т.В. Паничевская, А.В. Саченко, В.И. Турчаников.РЕЛАКСАЦИОННЫЕ методы определения электрофизических параметров поверхностно-барьерных структур / В.А. Гусев, Т.В. Паничевская, А.В. Саченко, В.И. Турчаников.РЕЛАКСАЦИОННЫЕ методы определения электрофизических параметров поверхностно-барьерных структур.Киев/Б. и./, 1991 ( ). - Б. и., 1991. - 30 с. : ил. ; 20 см. - (Препринт / АН УССР. Ин-т полупроводников ; 9-91).РЕЛАКСАЦИОННЫЕ методы определения электрофизических параметров поверхностно-барьерных структур. Киев, 1991 .
Рез. на англ. яз. - Библиогр.: с. 29-30. Библиогр.: с. 29-30.Полупроводники -- Поверхностные явления электронные/nlr_sh1/
Рез. на англ. яз. - Библиогр.: с. 29-30. Библиогр.: с. 29-30.Полупроводники -- Поверхностные явления электронные/nlr_sh1/