Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении, [Пер. с англ.]
П51/590 [[68-111476]]/русский (rus)/Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении : [Пер. с англ.] / М-во электронной пром-сти СССР. Переводы иностр. литературы.Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении : [Пер. с англ.] / М-во электронной пром-сти СССР. Переводы иностр. литературы.Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении : [Пер. с англ.].Москва/Ин-т "Электроника"/, 1968 ( ). - Ин-т "Электроника", 1968. - 15 с. : черт. ; 21 см. - (Серия "Контрольно-измерительная аппаратура" ; № 20/ЭТ-3046).Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении : [Пер. с англ.]. Москва, 1968 .
На обл. авт. не указан.Пленки тонкие -- Параметры -- Измерение/psbo/
На обл. авт. не указан.Пленки тонкие -- Параметры -- Измерение/psbo/