Measurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection method, Submitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991
Фз01 Д-4/6449 английский (eng)/Measurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection method : Submitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991 / L. P. Chernenko, D. A. Korneev, A. V. Petrenko et al.Measurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection method : Submitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991 / L. P. Chernenko, D. A. Korneev, A. V. Petrenko et al.Measurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection method : Submitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991.Дубна/Объед. ин-т ядер. исслед./, 1991 ( ). - Объед. ин-т ядер. исслед., 1991. - 4 с. : граф. ; 21 см см. - (Объединенный институт ядерных исследований, Дубна ; Е3-91-330).Measurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection method : Submitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991. Дубна, 1991 .
На 3-й с. обл.: Измерение глубины проникновения магнитного поля в ниобиевые поликристаллические пленки методом отражения поляризованных нейтронов / Черненко Л. П. и др. - Рез. на рус. яз. - Библиогр.: с. 4. Библиогр.: с. 4.Ниобий -- Тонкие пленки сверхпроводящие/В332.213/Chernenko ./
На 3-й с. обл.: Измерение глубины проникновения магнитного поля в ниобиевые поликристаллические пленки методом отражения поляризованных нейтронов / Черненко Л. П. и др. - Рез. на рус. яз. - Библиогр.: с. 4. Библиогр.: с. 4.Ниобий -- Тонкие пленки сверхпроводящие/В332.213/Chernenko ./