Исследование реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения (Запись № 5130258)
[ простой вид ]
| 000 -МАРКЕР | |
|---|---|
| контрольное поле | 00967nam0a22002531 4500 |
| 001 - ИДЕНТИФИКАТОР ЗАПИСИ | |
| контрольное поле | rc\1141778 |
| 005 - ИДЕНТИФИКАТОР ВЕРСИИ | |
| контрольное поле | 20250622194715.0 |
| 100 ## - ДАННЫЕ ОБЩЕЙ ОБРАБОТКИ | |
| Данные общей обработки | 20041129d1980 |||y0rusy50 ca |
| 101 0# - ЯЗЫК РЕСУРСА | |
| Язык текста, звукозаписи и т.д. | русский |
| 102 ## - СТРАНА ПУБЛИКАЦИИ ИЛИ ПРОИЗВОДСТВА | |
| Страна публикации | российская федерация |
| 105 ## - ПОЛЕ КОДИРОВАННЫХ ДАННЫХ: ТЕКСТОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ, МОНОГРАФИЧЕСКИЕ | |
| Кодированные данные о монографическом текстовом документе | a ||||||||| |
| 200 1# - ЗАГЛАВИЕ И СВЕДЕНИЯ ОБ ОТВЕТСТВЕННОСТИ | |
| Основное заглавие | Исследование реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения |
| Первые сведения об ответственности | И.П. Карабеков, Д.Л. Егикян, Р.А. Микаэлян и др. |
| 210 ## - ПУБЛИКАЦИЯ, РАСПРОСТРАНЕНИЕ И ДР. | |
| Место издания, распространения и т.д. | Ереван |
| Имя издателя, распространителя и т. д. | ОНТИ ЕФИ |
| Дата издания, распространения и т.д. | 1980 |
| 215 ## - ФИЗИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА | |
| Специфическое обозначение материала и объем | 13 с. |
| Другие сведения о физической характеристике | ил. |
| Размеры | 20 |
| 225 1# - СЕРИЯ | |
| Основное заглавие серии | Ереванский физический институт |
| Обозначение тома | ЕФИ-394 (1) |
| 320 ## - ПРИМЕЧАНИЯ О НАЛИЧИИ В ДОКУМЕНТЕ БИБЛИОГРАФИИ / УКАЗАТЕЛЯ | |
| Текст примечания | Библиогр.: с. 13 |
| 701 #1 - ИМЯ ЛИЦА - АЛЬТЕРНАТИВНАЯ ОТВЕТСТВЕННОСТЬ | |
| Начальный элемент ввода | Карабеков |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | И.П. |
| Расширение инициалов личного имени | Иван Патваканович |
| 852 ## - | |
| -- | NLR |
| -- | 80-4/27109 |
| 942 ## - ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ ЗАПИСИ (АБИС) | |
| Тип экземпляра АБИС | Книга |
Нет доступных экземпляров.