XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел РЭМ - 2015 и 3-я школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", г. Черноголовка, 1-4 июня 2015 г. : [тезисы докладов]
Язык: русский.Выходные данные: Черноголовка : ИПТМ, 2015Физическая характеристика: XXV, 547 с., [5] л. цв. ил. : ил. ; 20 см.ISBN: 9785895890820 Примечания: В надзаг.: Российская акад. наук, Науч. совет РАН по электронной микроскопии, Федеральное гос. бюджетное учреждение науки Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых матриалов Российской акад. наук, Федеральное гос. бюджетное учреждение науки Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Российской акад. наук.Библиография: Библиогр. в конце ст..Предметная рубрика - Тема: Твердые тела -- Исследование -- Аналитические методы -- Съезды, совещания и т.п | Электронная микроскопия растровая -- Съезды, совещания и т.п Другие классификации: В371.2я431(2) ; В338.48я431(2) Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
В надзаг.: Российская акад. наук, Науч. совет РАН по электронной микроскопии, Федеральное гос. бюджетное учреждение науки Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых матриалов Российской акад. наук, Федеральное гос. бюджетное учреждение науки Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Российской акад. наук
Пред. конф. 2011 г.
Библиогр. в конце ст.