Быстрые алгоритмы тестирования высоконадежных нейросетевых механизмов биометрико-криптографической защиты информации / [А.Ю. Малыгин, к.т.н., полк., В.И. Волчихин, д.т.н., проф., чл.-корр. Рос. акад. ракет. артиллер. наук, д.чл. Междунар. акад. информатизации, А.И. Иванов, д.т.н., В.А. Фунтиков, к.т.н.]
Язык: русский.Выходные данные: Пенза : Изд-во Пензенского государственного университета, 2006Физическая характеристика: 158, [1] с. : ил. ; 20 см.Библиография: Библиогр.: с. 149-154 (57 назв.).Предметная рубрика - Тема: Биометрия | Криптография | Искусственные нейронные сети -- Алгоритмы Другие классификации: Е.в647 ; З818 ; З811.4 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 2007-3/16924 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1493 | Доступно | 2449306 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 2007-3/16924 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1493 | Доступно | 2449307 |
Библиогр.: с. 149-154 (57 назв.)