Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии : [монография] / М. О. Макеев, с. А. Мешков, Ю. А. Иванов
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Российский университет дружбы народов, 2018Физическая характеристика: 140, [1] с. : ил., цв. ил., табл. ; 20 см.ISBN: 9785209085751 Примечания: На 4-й с. обл. авт.: М. О. Макеев, с. А. Мешков, кандидаты техн. наук, Ю. А. Иванов , д.ф.-м.н., проф..Библиография: Библиогр. в конце гл..Предметная рубрика - Тема: Нанокристаллические материалы -- Исследование -- Неразрушающие методы | Наноструктуры -- Исследование -- Неразрушающие методы | Эллипсометрия Другие классификации: Ж366-1с108 ; З844.1-01с108 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
На 4-й с. обл. авт.: М. О. Макеев, с. А. Мешков, кандидаты техн. наук, Ю. А. Иванов , д.ф.-м.н., проф.
Библиогр. в конце гл.