Радиационная стойкость наноструктурированных материалов : [монография] / В.В. Углов, Н.Т. Квасов, И.В. Сафронов [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Язык: русский.Выходные данные: Томск : Изд-во НТЛ, 2018Физическая характеристика: 168 с. : ил., табл. ; 21 см.ISBN: 9785895036235 Библиография: Библиогр.: с. 155-166 (167 назв.).Предметная рубрика - Тема: Наноструктуры -- Радиационная стойкость Другие классификации: З844.1-019.8 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр.: с. 155-166 (167 назв.)