Методы и системы диагностики наноструктурированных сред и материалов / Шелохвостов В. П., Чернышов В. Н.
Язык: русский.Выходные данные: Санкт-Петербург : Экспертные решения, 2017Физическая характеристика: 223 с. : ил., табл. ; 21 см.ISBN: 9785950026713 Примечания: На 4-й с. обл. авт.: Шелохвостов В. П., к. т. н., Чернышов В. Н., д. т. н., лауреат Гос. премии в области науки и техники.Библиография: Библиогр.: с. 209-220 (130 назв.).Предметная рубрика - Тема: Нанокристаллические материалы -- Исследование Другие классификации: Ж366-1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
На 4-й с. обл. авт.: Шелохвостов В. П., к. т. н., Чернышов В. Н., д. т. н., лауреат Гос. премии в области науки и техники
Библиогр.: с. 209-220 (130 назв.)