Способы построения отказоустойчивых цифровых микросхем и оценки вероятностей их отказа, вызванного облучением / П.А. Александров, В.И. Жук, В.Л. Литвинов
Язык: русский.Выходные данные: Москва : ПоРог, 2019Физическая характеристика: 113, [1] с. : ил., табл. ; 24 см.ISBN: 9785902377603 Примечания: На обороте тит. л. авт.: П.А. Александров, д.ф.-м.н., В.И. Жук, к.ф.-м.н., В.Л. Литвинов, д.ф.-м.н..Библиография: Библиогр.: с. 109-114 (59 назв.).Предметная рубрика - Тема: Цифровые интегральные схемы -- Отказоустойчивость | Цифровые интегральные схемы -- Проектирование Другие классификации: З844.15-021.1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
На обороте тит. л. авт.: П.А. Александров, д.ф.-м.н., В.И. Жук, к.ф.-м.н., В.Л. Литвинов, д.ф.-м.н.
Предложен новый метод оценки отказоустойчивости облучаемых микросхем, названный методом оценки "по площадям"
Библиогр.: с. 109-114 (59 назв.)