О тестах замыкания для контактных схем / К. А. Попков
Язык: русский ; резюме, английский.Выходные данные: Москва : ИПМ РАН, 2016Физическая характеристика: 19, [1] с. : ил. ; 21 см.Серия: Препринт ; № 14 за 2016 г. ; 2071-2898 . Препринты ИПМ им. М.В. Келдыша Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 19 (10 назв.).Предметная рубрика - Тема: Логические устройства -- Тестирование УДК: 510Другие классификации: З973.2-077Коллекция: НБР Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 19 (10 назв.)