Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие; для студентов вуза, обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника, 12.03.01 - Приборостроение, 14.03.02 - Ядерные физика и технология, 14.05.04 - Электроника и автоматика физических установок, 28.03.02 - Наноинженерия / А. В. Ищенко, А. С. Вохминцев, И. И. Огородников, И. А. Вайнштейн ; [научный редактор: д.ф.-м.н., проф. Б. В. Шульгин] ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина, [Физико-технологический институт]
Язык: русский.Выходные данные: Екатеринбург : УрФУ, 2017Физическая характеристика: 179 с. : ил., табл. ; 20 см.ISBN: 9785321025239 Библиография: Библиогр.: с. 167-168.Предметная рубрика - Тема: Сканирующая микроскопия зондовая -- Учебные издания для высших учебных заведений Другие классификации: ( rubbk ) В338.28я73-1 ; В342.84я73-1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр.: с. 167-168