Тестирование интегральных микросхем : учебное пособие; [для студентов вузов укрупненных групп направлений 09.00.00 "Информатика и вычислительная техника", 11.00.00 "Электроника, радиотехника и системы связи", 12.00.00 "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии"] / Ф.В. Васильев ; М-во образования и науки Российской Федерации, Московский авиационный ин-т (нац. исследовательский ун-т)
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Технология, 2016Физическая характеристика: 30, [1] с. : ил., табл. ; 20 см.ISBN: 9785990829107 Библиография: Библиогр.: с. 20 (4 назв.).Предметная рубрика - Тема: Интегральные схемы -- Технический контроль -- Учебные издания для высших учебных заведений УДК: 621.38Другие классификации: З844.15-06-7я73-1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр.: с. 20 (4 назв.)