Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018. Вып. 2: [Верификация и тестирование
Сводное описание: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 : [(МЭС-2018)] : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, [1-5 октября 2018 года] : сборник трудов / [Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наукЯзык: русский ; английский ; резюме, английский.Выходные данные: 2018Физическая характеристика: XI, 187 с. : ил., табл., цв. ил.ISBN: 978-5-94627-159-2 Примечания: Часть текста на англ. яз..Библиография: Библиогр. в конце ст.; Имен. указ. авт. ст.: с. 185-186.Предметная рубрика - Тема: Цифровые сверхбольшие интегральные схемы -- Съезды, совещания и т.п -- Техническая диагностика | Цифровые сверхбольшие интегральные схемы -- Съезды, совещания и т.п -- Проектирование Другие классификации: З844.15-082.051я431(2) ; З844.15-02я431(2)Коллекция: НБР ; Национальная библиография Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Часть текста на англ. яз.
Библиогр. в конце ст.
Имен. указ. авт. ст.: с. 185-186