Методы и средства контроля процессов и структур in situ. Ч. 2 : [по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах"] / Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского
Сводное описание: Методы и средства контроля процессов и структур in situ : учебное пособие для студентов, магистрантов и аспирантов направлений "Электроника и наноэлектроника", "Материаловедение и технологии материалов", "Биотехнические системы и технологии" : в 2 ч.Язык: русский.Выходные данные: 2016Физическая характеристика: 114, [1] с. : ил.ISBN: 9785292043935 Библиография: Библиогр. в конце разд.. Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр. в конце разд.