Исследование метрологических характеристик тонкопленочных микросхем и разработка методов и средств их функциональной подгонки и контроля / Г.С. Власов
Тома: Показать записиЯзык: русский.Выходные данные: Пенза : Изд-во ПГУ, 2003Физическая характеристика: 20 см.Примечания: На 4-й с. обл. авт.: Власов Г.С. - доц..Предметная рубрика - Тема: Интегральные схемы -- Контроль | Интегральные схемы -- Качество Другие классификации: З844.15-07 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
На 4-й с. обл. авт.: Власов Г.С. - доц.
параметры качества ИС и контроль