Патентная информация в сети Интернет : учебное пособие; для студентов технических факультетов, инженерных и научно-технических работников / Ю. И. Буч ; Минобрнауки России, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина)
Язык: русский.Выходные данные: Санкт-Петербург : Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2021Физическая характеристика: 79 с. : ил., табл. ; 21 см.ISBN: 978-5-7629-2895-3 Резюме: Рассмотрены особенности патентной информации, структура Международной патентной квалификации и приемы классифицирования технических решений. Даны рекомендации по поиску патентных документов с использованием информационных систем Роспатента, Патентного ведомства США, ЕПВ, ЕАПВ, ВОИС и компании Questel-Orbit. Дано понятие патентных исследований и раскрыты некоторые особенности их проведения для целей оценки патентоспособности и патентной чистоты. Предназначено для студентов технических факультетов, инженерных и научно-технических работников.Библиография: Библиогр. в тексте.Предметная рубрика - Тема: Патентная документация -- База данных -- Учебные издания для высших учебных заведений | Патентно-информационный поиск -- Учебные издания для высших учебных заведений Другие классификации: Ж.ф8я73-1 ; Ж.ф0(0)2я73-1 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж, Хран. | 2022-4/8057 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | КН-П-3906 | Доступно | 1-3965246 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж, Хран. | 2022-4/8057 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | КН-П-3906 | Доступно | 1-3965250 |
Библиогр. в тексте
Рассмотрены особенности патентной информации, структура Международной патентной квалификации и приемы классифицирования технических решений. Даны рекомендации по поиску патентных документов с использованием информационных систем Роспатента, Патентного ведомства США, ЕПВ, ЕАПВ, ВОИС и компании Questel-Orbit. Дано понятие патентных исследований и раскрыты некоторые особенности их проведения для целей оценки патентоспособности и патентной чистоты. Предназначено для студентов технических факультетов, инженерных и научно-технических работников