XII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'2001; Тез. докл., 4-6 июня 2001 г.
Язык: русский ; английский.Выходные данные: пос. Черноголовка : Богород. печатник, 2001Физическая характеристика: 193 с. : ил. портр. ; 21 см.ISBN: 5-89589-024-5 Примечания: В надзаг.: Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии; Часть текста на англ. яз..Библиография: Библиогр. в конце докл..Предметная рубрика - Тема: Твердые тела -- Исследование -- Аналитические методы -- Съезды, совещания и т.п | Электронная микроскопия растровая -- Съезды, совещания и т.п Неконтролируемые предметные термины: Микроскопия растровая | Твердые тела - Математические исследования УДК: 539.27(043.2), 3, rusДругие классификации: ( rugasnti ) 29.19 ; ( rubbk ) 22.37 ; В371.2я431(2) ; В338.48я431(2) Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 2002-3/9710 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 93 | Доступно | 256486 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 2002-3/9710 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 93 | Доступно | 256487 |
В надзаг.: Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии
Часть текста на англ. яз.
Библиогр. в конце докл.